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ABI Electronics Ltd
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Serie SYSTEM 8 - Soluciones flexibles y modulares.


La serie SYSTEM 8 está compuesta por módulos los cuales se combinan entre sí con el fin cumplir los requisitos y adecuarse a las aplicaciones en cada momento. Esta serie proporciona una gran capacidad de diagnóstico de fallos, incluyendo pruebas funcionales dentro del circuito y medidas discretas, siendo controlado por el Software SYSTEM 8. Los módulos pueden instalarse en un PC o combinarlos en un chasis externo con conexiones USB.

 

 

 

Escáner Matricial Avanzado (AMS)
El módulo AMS es un instrumento único capaz de tomar la firma V-I de los componentes variando la frecuencia automaticamente y sin alimentación. Las firmas pueden ser analizadas o comparadas, respecto a una firma de referencia, para detectar fallos, daños, componentes incompatibles o incorrectos así como cortocircuitos y circuitos abiertos. 64 canales + 4 canales individuales disponibles en cada módulo con parámetros regulables (frecuencia, voltaje, impedancia, pulsos de salida).


Rango de Pruebas: V-I, V-I-F, Matrix V-I, V-T prueba con pulsos.

 

 

Módulo de Pruebas Avanzado (ATM)
El ATM fué desarrollado para probar y diagnosticar todos los CIs y PCBs digitales de todas las familias lógicas, incluyendo TTL, CMOS, LVTTL y ECL. El módulo realiza pruebas con o sin alimentación, tanto dentro como fuera del circuito. Con especificaciones avanzadas y expandible hasta 2,048 canales, el módulo es perfecto para probar componentes y PCBs.


Rango de Pruebas: Tabla de verdad con librería (dentro y fuera del cirucito), prueba lógica personalizable (Todos los componentes lógicos), prueba funcional de la PCB, prueba de conexiones, prueba de voltaje, prueba térmica, prueba V/I, identificación de CI, detector de cortocircuitos.

 

 

 
 

Probador de CIs analógicos (AICT)

El AICT permite hacer pruebas funcionales a CIs analógicos y componentes discretos, dentro del circuito. Se pueden probar los dispositivos analógicos más comunes, según están configurados en la placa. El AICT también incluye una prueba V-I completamente configurable equipada con un generador de pulsos para las pruebas de dispositivos de activación (transistores, triacs, etc).


Rango de Pruebas: Funcional, prueba de conexiones, prueba de voltage, análisis de firma (VI),
prueba matricial V/I (opcional fuera del circuito), prueba V/T con pulsos.

 

 

 

Detector de averías de PCB digitales (BFL)
El BFL está dirigido a la prueba de CIs digitales TTL/CMOS. Con 64 canales de prueba, ofrece pruebas funcionales (dentro y fuera del circuito), conexiones y voltaje, así como análisis V-I y prueba térmica. Hasta 4 módulos pueden combinarse para ofrecer un máximo de 256 canales.


Rango de Pruebas: Tabla de verdad con librería (dentro y fuera del circuito), prueba lógica personalizable para TTL/CMOS, prueba de conexiones, prueba de voltaje, prueba térmica, prueba V-I, identificación de CI, detector de cortocircuitos, verificador de EEPROM.

 

 

 
 

Módulo de instrumentación virtual (MIS 4)
El Módulo de Instrumentación Virtual (MIS 4) ofrece no menos de 8 instrumentos de prueba y medida en un único módulo compacto. Perfecto para diseño y educación o para usar en cualquier banco de prueba, el MIS 4 reduce su espacio y tiempo ofreciendole las siguientes prestaciones: Osciloscopio virtual de almacenamiento digital, multímetro digital con tierras aisladas, generador arbitrario de frecuencia virtual, frecuencímetro virtual y contador de eventos, E/S programables, calculadoras integradas con registro de datos, controlador de pasos TestFlow, secuencias de diagnóstico automáticas e instrumentos personalizables. Para usarlos de forma óptima, los instrumentos pueden ser personalizados o rediseñados para adecuarse a las distintas aplicaciones.

 

 

Multiplexed Matrix Switch (MMS)
El Multiplexed Matrix Switch ABI (MMS) es una interfaz de matriz de 16x16 que ofrece 256 puntos de cruce para conectar cualquier canal a cualquier canal, con hasta 16 rutas únicas a la vez. El MMS también se puede usar como multiplexor o demultiplexador y es una alternativa económica para automatizar los requisitos de prueba de volumen bajo a medio.

 

Diseñado para funcionar exclusivamente con la gama de instrumentos de prueba de ABI, el MMS puede ofrecer resultados de alto nivel sin necesidad de programación y por una fracción del coste de la instrumentación tradicional ATE, PXI o LXI. Se pueden configurar múltiples soluciones de prueba para aplicaciones con alto número de canales.

 

 

 
 

La fuente de alimentación programable (PPS)
La fuente de alimentación programable (PPS) es el módulo de alimentación más ambicioso de ABI desarrollado para la gama SYSTEM 8. Más de 35 años de excelencia en el diseño y la fabricación de productos se aplicaron para la fabricación de esta unidad versátil USB que se adapta a diversos escenarios de prueba y medición. Desde pruebas de producción de volumen bajo a medio, hasta tareas predictivas / correctivas y solución de problemas en PCBs.

 

 

 

Fuente de alimentación variable (VPS)
El VPS aporta la alimentación necearia a la unidad bajo prueba. Las 3 salidas son variables en voltaje y consta de una protección frente a sobre voltaje y limitaciónes de corriente.